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  3. 下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是( )。

下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是( )。

admin2021-02-01  37
问题 下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是(   )。
选项 A、边界扫描技术是调试硬件芯片及目标机电路板的一种常用调试技术。
B、JTAG组织所研究的测试访问端口和边界扫描结构标准，成为了片上测试技术的一种国际标准，即俗称的JTAG标准。
C、使用片上调试技术进行嵌入式系统目标机调试时，无需目标存储器，也不占用目标机任何I／O端口。
D、经常用于嵌入式系统设计中的微处理器（如：MCS–51、DSP、ARM）都支持JTAG标准的片上调试技术
答案D
解析 边界扫描测试技术是对芯片或印制电路板进行片上调试最常用的一种技术；JTAG是IEEE下的一个组织，是研究测试访问端口和边界扫描结构的标准，研究结果即俗称的JTAG标准：使用JTAG 进行嵌入式系统的调试，无需目标存储器，也不占用目标机任何I／O端口；对于不支持JTAG调试标准的嵌入式CPU，如MCS–51单片机，其软件固化要使用称为“编程器”的设备来进行。故本题选D。
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